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          BeNano Zeta 電位分析儀

          簡(jiǎn)要描述:BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測(cè)量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。

          • 產(chǎn)品型號(hào):
          • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          • 更新時(shí)間:2025-06-17
          • 訪  問(wèn)  量: 5535

          詳細(xì)介紹

          產(chǎn)品介紹

          BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測(cè)量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理,樣品分散在樣品池中,在樣品池兩端施加一個(gè)電場(chǎng),通過(guò)激光照射到電場(chǎng)中的樣品上,光電檢測(cè)器在 12°角檢測(cè)樣品顆粒電泳運(yùn)動(dòng)造成的散射光的多普勒頻移,進(jìn)而得到體系的 Zeta 電位信息。


          BeNano Zeta 電位分析儀


          基本性能指標(biāo)

          Zata電位測(cè)試

            檢測(cè)角度

            12°

            Zeta范圍

            無(wú)實(shí)際限制

            電泳遷移率范圍

            > ±20 μ.cm/V.s

            電導(dǎo)率范圍

            0-260 mS/cm

            Zeta測(cè)試粒徑范圍

            2 nm – >120 μm

          趨勢(shì)測(cè)試

            模式  時(shí)間和溫度

          系統(tǒng)參數(shù)

            溫控范圍

            -15℃-120℃

            冷凝控制

            干燥空氣或者氮?dú)?/span>

            標(biāo)準(zhǔn)激光光源

            50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

            相關(guān)器

            最多 4000通道,1011動(dòng)態(tài)線性范圍

            檢測(cè)器

            APD (高性能雪崩光電二極管)

            光強(qiáng)控制

            0.0001%  - 100%,手動(dòng)或者自動(dòng)









          檢測(cè)參數(shù)

          ●Zeta 電位

          Zeta 電位分布

          ●電導(dǎo)率



          檢測(cè)技術(shù)

          ●電泳光散射



          選配件

           BAT-1自動(dòng)滴定儀

          樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試,具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

           

          BeNano Zeta 電位分析儀


           BeScan穩(wěn)定性分析儀

          BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過(guò)檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過(guò)肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過(guò)定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

           

          BeNano Zeta 電位分析儀

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