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BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀在0°角設(shè)置一個PD檢測器，通過檢測透射光的光強(qiáng)隨時間的變化，檢測沉降樣品的粒度和粒度分布信息。沉降法粒度測試的適用范圍在幾微米至幾十微米，可有效彌補(bǔ)動態(tài)光散射對大顆粒檢測的限制。在這篇應(yīng)用報(bào)告中，使用丹東百特儀器公司的BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀檢測了多種粒徑混合的樣品的粒度信息。原理BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀基于透射光路檢測樣品的透射光強(qiáng)度，然后基...

納米粒度儀通過動態(tài)光散射技術(shù)DLS檢測均勻穩(wěn)定樣品的粒徑和粒徑分布。DLS的最佳檢測范圍在幾納米至亞微米范圍。DLS技術(shù)無法有效檢測大顆粒的原因之一是大顆粒通常具有一定的沉降行為，這對動態(tài)光散射的準(zhǔn)確性造成極大的影響。然而對于一些具有沉降特征的顆粒，可以利用其沉降行為進(jìn)行粒度測試。BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀中在0°角設(shè)置一個PD檢測器，通過檢測透射光的光強(qiáng)隨時間的變化，檢測沉降樣品的粒度和粒度分布信息。沉降法粒度測試的適合范圍在幾微米至幾十微...

粒度分析儀作為顆粒檢測領(lǐng)域的重要工具，其工作原理與應(yīng)用場景備受關(guān)注。該儀器基于多種物理原理，通過非接觸式測量獲取顆粒尺寸分布數(shù)據(jù)，為材料科學(xué)、化工、制藥等行業(yè)提供關(guān)鍵技術(shù)支持。粒度分析儀的核心工作原理以激光散射技術(shù)為代表。當(dāng)激光束照射到顆粒懸浮液時，顆粒表面會發(fā)生散射現(xiàn)象，散射光的強(qiáng)度與顆粒尺寸密切相關(guān)。儀器通過測量散射光的強(qiáng)度分布，結(jié)合Mie散射理論或Fraunhofer衍射理論，能夠精確計(jì)算出顆粒的粒徑分布。例如，在激光粒度分析儀中，傅里葉透鏡將散射光聚焦到檢測器陣列，通...

在材料科學(xué)、制藥、化工和環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域，顆粒粒度的精確測量對于產(chǎn)品質(zhì)量控制、工藝優(yōu)化和研究開發(fā)至關(guān)重要。離心沉降粒度分析儀作為一種能夠高效、準(zhǔn)確地測量顆粒粒度分布的儀器，受到了廣泛應(yīng)用。然而，面對市場上眾多不同品牌和型號的離心沉降粒度分析儀，如何選擇一款適合自身需求的設(shè)備，是許多研究人員和企業(yè)面臨的重要問題。本文將從測量范圍、分辨率、樣品適應(yīng)性等方面，為您提供一份全面的選型指南。一、測量范圍：確保覆蓋所需粒度區(qū)間測量范圍是選擇離心沉降粒度分析儀時需要考慮的首要因素。不同的應(yīng)用...

?顆粒物的粒徑檢測和濃度檢測需求一直存在，且與研究物質(zhì)的物理化學(xué)性質(zhì)、反應(yīng)動力學(xué)等基礎(chǔ)科學(xué)問題密切相關(guān)，在環(huán)境檢測保護(hù)、工業(yè)和醫(yī)藥生產(chǎn)質(zhì)控、醫(yī)療衛(wèi)生系統(tǒng)的疾病診斷以及食品行業(yè)都有廣泛的應(yīng)用。檢測顆粒物濃度可以通過多種手段進(jìn)行，例如散射法、光阻法、電阻法等。百特最新推出的BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀通過一種結(jié)合消光法、米理論和動態(tài)光散射的方法LEDLS，可以檢測一個寬泛的粒徑范圍內(nèi)的顆粒物的體積分?jǐn)?shù)和數(shù)量濃度信息。LEDLS作為百特濃度測試技術(shù)，...