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BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀在0°角設置一個PD檢測器，通過檢測透射光的光強隨時間的變化，檢測沉降樣品的粒度和粒度分布信息。沉降法粒度測試的適用范圍在幾微米至幾十微米，可有效彌補動態(tài)光散射對大顆粒檢測的限制。在這篇應用報告中，使用丹東百特儀器公司的BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀檢測了多種粒徑混合的樣品的粒度信息。原理BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀基于透射光路檢測樣品的透射光強度，然后基...

納米粒度儀通過動態(tài)光散射技術DLS檢測均勻穩(wěn)定樣品的粒徑和粒徑分布。DLS的最佳檢測范圍在幾納米至亞微米范圍。DLS技術無法有效檢測大顆粒的原因之一是大顆粒通常具有一定的沉降行為，這對動態(tài)光散射的準確性造成極大的影響。然而對于一些具有沉降特征的顆粒，可以利用其沉降行為進行粒度測試。BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀中在0°角設置一個PD檢測器，通過檢測透射光的光強隨時間的變化，檢測沉降樣品的粒度和粒度分布信息。沉降法粒度測試的適合范圍在幾微米至幾十微...

粒度分析儀作為顆粒檢測領域的重要工具，其工作原理與應用場景備受關注。該儀器基于多種物理原理，通過非接觸式測量獲取顆粒尺寸分布數據，為材料科學、化工、制藥等行業(yè)提供關鍵技術支持。粒度分析儀的核心工作原理以激光散射技術為代表。當激光束照射到顆粒懸浮液時，顆粒表面會發(fā)生散射現象，散射光的強度與顆粒尺寸密切相關。儀器通過測量散射光的強度分布，結合Mie散射理論或Fraunhofer衍射理論，能夠精確計算出顆粒的粒徑分布。例如，在激光粒度分析儀中，傅里葉透鏡將散射光聚焦到檢測器陣列，通...

在材料科學、制藥、化工和環(huán)境科學等領域，顆粒粒度的精確測量對于產品質量控制、工藝優(yōu)化和研究開發(fā)至關重要。離心沉降粒度分析儀作為一種能夠高效、準確地測量顆粒粒度分布的儀器，受到了廣泛應用。然而，面對市場上眾多不同品牌和型號的離心沉降粒度分析儀，如何選擇一款適合自身需求的設備，是許多研究人員和企業(yè)面臨的重要問題。本文將從測量范圍、分辨率、樣品適應性等方面，為您提供一份全面的選型指南。一、測量范圍：確保覆蓋所需粒度區(qū)間測量范圍是選擇離心沉降粒度分析儀時需要考慮的首要因素。不同的應用...

?顆粒物的粒徑檢測和濃度檢測需求一直存在，且與研究物質的物理化學性質、反應動力學等基礎科學問題密切相關，在環(huán)境檢測保護、工業(yè)和醫(yī)藥生產質控、醫(yī)療衛(wèi)生系統的疾病診斷以及食品行業(yè)都有廣泛的應用。檢測顆粒物濃度可以通過多種手段進行，例如散射法、光阻法、電阻法等。百特最新推出的BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀通過一種結合消光法、米理論和動態(tài)光散射的方法LEDLS，可以檢測一個寬泛的粒徑范圍內的顆粒物的體積分數和數量濃度信息。LEDLS作為百特濃度測試技術，...